富士工作

薄膜厚度測量裝置高性能兼容分辨率0.1

薄膜厚度測量裝置高性能支持0.1分辨率添加 產(chǎn)品評論

無線輕便！即使在沒有電源的地方也
能輕松測量0.1μm！可用于所有工業(yè)領域的測量，質(zhì)量控制，節(jié)能等。

使用 

[論文]印刷品，薄膜等[金屬]薄壁底盤，鑄件，圓筒，軸，圓盤等[采礦]粘土，水泥，沙子，陶瓷，石膏等[其他]玻璃，橡膠，表面粗糙材料和涂層劑的薄膜厚度測量

規(guī)范 

測量臺：測量表面50 50（陶瓷）

電源 

紐扣型電池（CR2032）

分辨率（μm） 

0.1

測量范圍（μm） 

0.1

觸角 

聯(lián)系anvil 908H（R31硬質(zhì)合金球面）

重復性（μm） 

0.4（重復探頭的頂部和底部）

輸出端子 

RS-232C / USB

內(nèi)容 

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訂單 代碼	產(chǎn)品編號	參考 標準 價格 （不含稅）
70824355	HKT-Lite0.1	24000

薄膜厚度測量裝置高性能支持0.1分辨率添加 產(chǎn)品評論

無線輕便！即使在沒有電源的地方也
能輕松測量0.1μm！可用于所有工業(yè)領域的測量，質(zhì)量控制，節(jié)能等。

使用 

[論文]印刷品，薄膜等[金屬]薄壁底盤，鑄件，圓筒，軸，圓盤等[采礦]粘土，水泥，沙子，陶瓷，石膏等[其他]玻璃，橡膠，表面粗糙材料和涂層劑的薄膜厚度測量

規(guī)范 

測量臺：測量表面50 50（陶瓷）

電源 

紐扣型電池（CR2032）

分辨率（μm） 

0.1

測量范圍（μm） 

0.1

觸角 

聯(lián)系anvil 908H（R31硬質(zhì)合金球面）

重復性（μm） 

0.4（重復探頭的頂部和底部）

日本富士膜厚計HKT-Lite0.1

日本富士膜厚計HKT-Lite0.1

端子 

RS-232C / USB

內(nèi)